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2017SPIEX射线纳米成像专题会议(X-Ray Nanoimaging:Instruments and Methods III)。
2017SPIEX射线和EUV光学计量学进展专题会议(Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VII)。
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A hard x-ray transmission microscope with 30 nm spatial resolution has been developed employing the third diffraction order of a zone plate objective. The microscope utilizes a capillary type condense...

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